| Titre : | Méthodes physiques d'analyse de surface sims-aes-esca application a l'etude et au controle en traitements de surface |
| Auteurs : | Nouria Agoudjil, Auteur |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | office des publications universitaires, 1994 |
| Format : | 204 p / 26.5 cm |
| Langues: | Français |
| Mots-clés: | science technologie |
| Note de contenu : |
-introduction 1-analyse par emission ionique secondaire sims spectroscopie de masse d'ions secondaires 2-spectroscopie des electrons auger(A.E.S) 3-spectroscopes de photoelectrons xps ou esca et ups |
Exemplaires (3)
| Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité |
|---|---|---|---|---|---|
| TEC010480 | CH00081 | Livre | Fonds propre-bibliotheque centrale | chimie | Libre accès Disponible |
| TEC010481 | CH00082 | Livre | Fonds propre-bibliotheque centrale | chimie | Libre accès Disponible |
| TEC010482 | CH00083 | Livre | Fonds propre-bibliotheque centrale | chimie | Libre accès Disponible |
