| Titre : | Methodes physiques d'analyse de surface sime-aes-esca application a l'etude et au controle en traitements de surface. |
| Auteurs : | Agoudjil.Nouria, Auteur |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | Alger:o.p.u |
| Collection : | le cours de chimie |
| Format : | 204p / 27cm |
| Langues: | Français |
| Note de contenu : |
*1:Analyse par emission ionique secondaire sims spectroscopie de masse d'ions secondaires. -introduction. -appareillage. -applications analytiques. -conclusion. *2:Spectroscopie des electrons auger. -introduction. -principes generaux. -techiniques expermentales. -applications. -conclusion. *3:Spectroscopies de photoelectrons xps ou esca et ups. -introductions. -principes de base et fondements. -instrumentations. -obtention et interprétation du spectre de photo electrons. -domaines d'application. -conclutsion. |
Exemplaires
| Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité |
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| aucun exemplaire |
